tlv2332, tlv2332y, tlv2334, tlv2334y
LinCMOS
低-电压 中等-电源
运算的 放大器
slos189 – 二月 1997
24
邮递 办公室 盒 655303
•
达拉斯市, 德州 75265
参数 度量 信息
一般地 量过的 用 monitoring 这 扭曲量 水平的 的 这 输出 当 增加 这 频率 的 一个 sinusoidal
输入 信号 直到 这 最大 频率 是 建立 在之上 这个 这 输出 包含 重大的 扭曲量. 这
全部-顶峰 回馈 是 定义 作 这 最大 输出 频率, 没有 关于 至 扭曲量, 在之上 这个 全部
顶峰-至-顶峰 输出 摆动 不能 是 maintained.
因为 那里 是 非 工业-宽 accepted 值 为 重大的 扭曲量, 这 全部-顶峰 回馈 是 指定
在 这个 数据 薄板 和 是 量过的 使用 这 电路 的 图示 34. 这 最初的 建制 involves 这 使用 的 一个 sinusoidal
输入 至 决定 这 最大 顶峰-至-顶峰 输出 的 这 设备 (这 振幅 的 这 sinusoidal 波 是
增加 直到 修剪 occurs). 这 sinusoidal 波 是 然后 replaced 和 一个 正方形的 波 的 这 一样
振幅. 这 频率 是 然后 增加 直到 这 最大 顶峰-至-顶峰 输出 能 非 变长 是 maintained
(图示 38). 一个 正方形的 波 是 使用 至 准许 一个 更多 精确 determination 的 这 要点 在 这个 这 最大
顶峰-至-顶峰 输出 是 reached.
(d) f > b
OM
(c) f = b
OM
(b) b
OM
> f > 100 hz(一个) f = 100 hz
图示 38. 全部-电源-回馈 输出 信号
测试 时间
inadequate 测试 时间 是 一个 frequent 问题, 特别 当 测试 cmos 设备 在 一个 高-容积,
短的-测试-时间 环境. 内部的 capacitances 是 本质上 高等级的 在 cmos 比 在 双极 和 bifet
设备 和 需要 变长 测试 时间 比 它们的 双极 和 bifet counterparts. 这 问题 变为 更多
pronounced 和 减少 供应 水平 和 更小的 温度.
应用 信息
单独的-供应 运作
当 这 tlv233x 执行 好 使用 双-
电源 供应 (也 called 保持平衡 或者 分割
供应), 这 设计 是 优化 为 单独的-
供应 运作. 这个 包含 一个 输入 一般-
模式 电压 范围 那 encompasses 地面 作
好 作 一个 输出 电压 范围 那 pulls 向下 至
地面. 这 供应 电压 范围 extends 向下
至 2 v, 因此 准许 运作 和 供应 水平
commonly 有 为 ttl 和 hcmos.
许多 单独的-供应 产品 需要 那 一个
电压 是 应用 至 一个 输入 至 establish 一个
涉及 水平的 那 是 在之上 地面. 这个 模拟的
地面 能 是 发生 使用 二 大
电阻器, 但是 一个 preferred 技巧 是 至 使用 一个
模拟的-地面 发生器 此类 作 这 tle2426
(看 图示 39).
–
+
TLE2426
V
O
V
I
R1
R2
V
DD
图示 39. 反相的 放大器 和 电压
涉及
V
O
+
ǒ
V
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I
2
Ǔ
R2
R1
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2
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