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11
地
V
CC
+5 v
d.u.t.
I
F
= 13 毫安
PULSE
GENERATOR
Z
O
= 50
Ω

t
r
= 5 ns

C
L
*
R
L
* c
L
包含 探查 and
偏离 线路 电容.
V
E
V
输出
输出 v
E
MONITORING
NODE
输出 v
O
MONITORING
NODE
0.01 µf
绕过
地
V
CC
d.u.t.*
T
一个
= +125 °c
* 所有 途径 测试 同时发生地.
V
OC
情况:  i
F
= 20 毫安
V
CC
V
在
+–
(各自 输出)
(各自 输入)
I
O
= 25 毫安
0.01 µf
200
Ω
5.3 v
(各自 输出)
+5.5 v
+5.5 v
200
Ω
图示 10. 运行 电路 为 烧-在 和 稳步的 状态 生命 tests.
图示 8. 测试 电路 为 t
EHL
和 t
ELH
.
图示 9. 使能 传播 延迟
vs. 温度.

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11 地 V CC +5 v d.u.t. I F = 13 毫安 PULSE GENERATOR Z O = 50 Ω  t r = 5 ns  C L * R L * c L 包含探查 and 偏离线路电容. V E V 输出输出 v E MONITORING NODE 输出 v O MONITORING NODE 0.01 µf 绕过地 V CC d.u.t.* T 一个 = +125 °c * 所有途径测试同时发生地. V OC 情况: i F = 20 毫安 V CC V 在 +– (各自输出) (各自输入) I O = 25 毫安 0.01 µf 200 Ω 5.3 v (各自输出) +5.5 v +5.5 v 200 Ω 图示 10. 运行电路为烧-在和稳步的状态生命 tests. 图示 8. 测试电路为 t EHL 和 t ELH . 图示 9. 使能传播延迟 vs. 温度.

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