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© 1998 硅 存储 技术, 公司 329-09 11/98
16 megabit multi-目的 flash
sst39vf160q / sst39vf160
进步 信息
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F
IGURE
14: 交流 i
NPUT
/o
UTPUT
R
EFERENCE
W
AVEFORMS
交流 测试 输入 是 驱动 在 v
OH
(2.4 v) 为 一个 逻辑 “1” 和 v
OL
(0.4 v) 为 一个 逻辑 “0”. 度量 涉及 点
为 输入 和 输出 是 v
IH
(2.0 v) 和 v
IL
(0.8 v). 输入 上升 和 下降 时间 (10%
↔
90%) 是 <10 ns.
F
IGURE
15: t
EST
L
OAD
E
XAMPLE
测试 情况:
输出 加载: 100 pf
输入 上升 和 下降 时间: 10 ns
度量 涉及 水平的: 0.8 和 2.0 v
输入 水平: 0.4 v 至 2.4 v
温度: 商业的 或者 工业的
329 ill f11.0
涉及 点 OUTPUTINPUT
2.0
0.8
2.4
0.4
2.0
0.8
329 ill f12.0
测试 加载 例子
至 tester
至 dut
C
L
R
l l OW
R
L
高
V
CC