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MC34055
3
motorola 相似物 ic 设备 数据
电的 特性
(0
°
C
≤
T
一个
≤
70
°
c, v
CC
= 5.0 v, 除非 否则 指出.)
典型的 标识 最小值 Typ 最大值 单位
tx en h
输入 高 电压 (i
IH
= 200
µ
一个) V
IH
2.0 – 5.0 Vdc
输入 低 电压 (i
IL
= – 20
µ
一个) V
IL
0 – 0.8
rx 数据 一个/rx en h/jabb h/ctl h
输出 电压 (看 加载 电路: cmos 加载 电路)
Vdc
高 (i
OH
= –12 毫安) V
OH
3.7 – –
低 (i
OL
= +16 毫安) V
OL
– – 0.5
rx 数据 b
输出 电压 (看 加载 电路: ecl 加载 电路)
Vdc
高: @ 0
°
C V
OH
0.984 V
CC
– 0.923 0.984 V
CC
– 0.763
@ 25
°
C 0.984 V
CC
– 0.877 0.984 V
CC
– 0.727
@ 70
°
C 0.984 V
CC
– 0.825 0.984 V
CC
– 0.644
低: @ 0
°
C V
OL
0.750 V
CC
– 0.568 0.750 V
CC
– 0.361
@ 25
°
C 0.750 V
CC
– 0.550 0.750 V
CC
– 0.350
@ 70
°
C 0.750 V
CC
– 0.531 0.750 V
CC
– 0.324
信号 质量 错误 测试 使能 控制 (sqe en l)
测试 控制 电压
Vdc
测试 无能 (输入 高 电压)(i
IH
= + 20
µ
一个 最大值.) V
IH
2.0 – 5.0
测试 使能 (输入 低 电压)(– 50
µ
一个 < i
IL
< –150
µ
一个) V
IL
0 – 0.8
全部 duplex 模式 选择 (fulld l)
模式 选择 控制 电压
Vdc
正常的 运作 (输入 高)(i
IH
= + 20
µ
一个) V
IH
2.0 – 5.0
全部 duplex (输入 低)(– 50
µ
一个 < i
IH
< –150
µ
一个) V
IL
0 – 0.8
loopback 测试 模式 函数 (循环 l)
测试 控制 电压
Vdc
测试 无能 (输入 高)(i
IH
= + 20
µ
一个) V
IH
2.0 – 5.0
测试 使能 (输入 低)(i
IL
= – 200
µ
一个) V
IL
0 – 0.8
link 失败 状态 (linkfl h)
状态 输出 电压 (看 加载 电路: cmos 加载 电路)
最大 电压 为 输出 低 情况 (i
OL
= 20 毫安) V
OH
– – 0.5 Vdc
输出 低 下沉 电流 V
OL
– – 20 毫安
时钟 振荡器
clk+ 输入 逻辑 门槛
高 水平的 输入 电压 (i
IH
= +100
µ
一个 最大值.) V
IH
2.0 – 5.0 Vdc
逻辑 低 输入 电压 (i
IL
= –100
µ
一个 最大值.) V
IL
– – 0.8
µ
一个
clk 输出 输出 电压 (看 加载 电路: cmos 加载 电路)
Vdc
逻辑 高 (i
OH
= –12 毫安) V
OH
3.7 3.9 –
逻辑 低 (i
输出
= +16
µ
一个) V
OL
– 0.25 0.5
输出 加载 电路
ttl/cmos 加载 电路
6.0k
Ω
20 pf
ecl 加载 电路
330
Ω
15 pf
差别的 加载 电路
100
Ω
TX–
TX+
39 (1%)
39 (1%)
V
OD

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MC34055 3 motorola 相似物 ic 设备数据电的特性 (0 ° C ≤ T 一个 ≤ 70 ° c, v CC = 5.0 v, 除非否则指出.) 典型的标识最小值 Typ 最大值单位 tx en h 输入高电压 (i IH = 200 µ 一个) V IH 2.0 – 5.0 Vdc 输入低电压 (i IL = – 20 µ 一个) V IL 0 – 0.8 rx 数据一个/rx en h/jabb h/ctl h 输出电压 (看加载电路: cmos 加载电路) Vdc 高 (i OH = –12 毫安) V OH 3.7 – – 低 (i OL = +16 毫安) V OL – – 0.5 rx 数据 b 输出电压 (看加载电路: ecl 加载电路) Vdc 高: @ 0 ° C V OH 0.984 V CC – 0.923 0.984 V CC – 0.763 @ 25 ° C 0.984 V CC – 0.877 0.984 V CC – 0.727 @ 70 ° C 0.984 V CC – 0.825 0.984 V CC – 0.644 低: @ 0 ° C V OL 0.750 V CC – 0.568 0.750 V CC – 0.361 @ 25 ° C 0.750 V CC – 0.550 0.750 V CC – 0.350 @ 70 ° C 0.750 V CC – 0.531 0.750 V CC – 0.324 信号质量错误测试使能控制 (sqe en l) 测试控制电压 Vdc 测试无能 (输入高电压)(i IH = + 20 µ 一个最大值.) V IH 2.0 – 5.0 测试使能 (输入低电压)(– 50 µ 一个 < i IL < –150 µ 一个) V IL 0 – 0.8 全部 duplex 模式选择 (fulld l) 模式选择控制电压 Vdc 正常的运作 (输入高)(i IH = + 20 µ 一个) V IH 2.0 – 5.0 全部 duplex (输入低)(– 50 µ 一个 < i IH < –150 µ 一个) V IL 0 – 0.8 loopback 测试模式函数 (循环 l) 测试控制电压 Vdc 测试无能 (输入高)(i IH = + 20 µ 一个) V IH 2.0 – 5.0 测试使能 (输入低)(i IL = – 200 µ 一个) V IL 0 – 0.8 link 失败状态 (linkfl h) 状态输出电压 (看加载电路: cmos 加载电路) 最大电压为输出低情况 (i OL = 20 毫安) V OH – – 0.5 Vdc 输出低下沉电流 V OL – – 20 毫安时钟振荡器 clk+ 输入逻辑门槛高水平的输入电压 (i IH = +100 µ 一个最大值.) V IH 2.0 – 5.0 Vdc 逻辑低输入电压 (i IL = –100 µ 一个最大值.) V IL – – 0.8 µ 一个 clk 输出输出电压 (看加载电路: cmos 加载电路) Vdc 逻辑高 (i OH = –12 毫安) V OH 3.7 3.9 – 逻辑低 (i 输出 = +16 µ 一个) V OL – 0.25 0.5 输出加载电路 ttl/cmos 加载电路 6.0k Ω 20 pf ecl 加载电路 330 Ω 15 pf 差别的加载电路 100 Ω TX– TX+ 39 (1%) 39 (1%) V OD

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