atf1508as/z
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jtag-bst overview
这 jtag boundary-scan 测试 是 控制 用 这 测试
进入 端口 (tap) 控制 在 这 atf1508as. 这
boundary-scan 技巧 involves 这 包括 的 一个 变换-
寄存器 平台 (包含 在 一个 boundary-scan cell) 调整
至 各自 组件 所以 那 信号 在 组件 bound-
aries 能 是 控制 和 observed 使用 scan 测试
principles. 各自 输入 管脚 和 i/o 管脚 有 它的 自己的 boundary
scan cell (bsc) 在 顺序 至 支持 boundary scan 测试.
这 atf1508as 做 不 目前 包含 一个 测试 重置
(trst) 输入 管脚 因为 这 tap 控制 是 自动地-
cally 重置 在 电源 向上. 这 六 jtag bst 模式 sup-
ported 包含: 样本/preload, extest, 绕过,
idcode. bst 在 这 atf1508as 是 执行 使用
这 boundary scan 定义 language (bsdl) 描述
在 这 jtag 规格 (ieee 标准 1149.1). 任何
第三 群 tool 那 支持 这 bsdl format 能 是 使用
至 执行 bst 在 这 atf1508as.
这 atf1508as 也 有 这 选项 的 使用 四 jtag-
标准 i/o 管脚 为 在-系统 程序编制 (isp). 这
atf1508as 是 可编程序的 通过 这 四 jtag 管脚
使用 程序编制 兼容 和 这 ieee jtag stan-
dard 1149.1. 程序编制 是 执行 用 使用 5v ttl-
水平的 程序编制 信号 从 这 jtag isp 接口.
这 jtag 特性 是 一个 可编程序的 选项. 如果 jtag (bst
或者 isp) 是 不 需要, 然后 这 四 jtag 控制 管脚 是
有 作 i/o 管脚.
jtag boundary scan cell (bsc)
Testing
这 atf1508as 包含 向上 至 96 i/o 管脚 和 4 输入
管脚, 取决于 在 这 设备 类型 和 包装 类型
选择. 各自 输入 管脚 和 i/o 管脚 有 它的 自己的 boundary
scan cell (bsc) 在 顺序 至 支持 boundary scan 测试
作 描述 在 detail 用 ieee 标准 1149.1. 典型
bsc 组成 的 三 俘获 寄存器 或者 scan 寄存器
和 向上 至 二 更新 寄存器. 那里 是 二 类型 的
bscs, 一个 为 输入 或者 i/o 管脚, 和 一个 为 这 macrocells.
这 bscs 在 这 设备 是 chained 一起 通过 这
俘获 寄存器. 输入 至 这 俘获 寄存器 chain 是 喂养
在 从 这 tdi 管脚 当 这 输出 是 directed 至 这 tdo
管脚. 俘获 寄存器 是 使用 至 俘获 起作用的 设备
数据 信号, 至 变换 数据 在 和 输出 的 这 设备 和 至
加载 数据 在 这 更新 寄存器. 控制 信号 是 gen-
erated 内部 用 这 jtag tap 控制. 这 bsc
配置 为 这 输入 和 i/o 管脚 和 macrocells 是
显示 在下.
bsc 配置 管脚 和
macrocells (除了 jtag tap 管脚)
便条: 这 atf1508as 有 拉-向上 选项 在 tms 和 tdi
管脚. 这个 特性 是 选择 作 一个 设计 选项.
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