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数据 薄板
4 mbit flash + 1 mbit 或者 256 kbit sram combomemory
sst31lf041 / sst31lf041a / sst31lf043 / sst31lf043a
©2001 硅 存储 技术, 公司 s71107-03-000 5/01 349
图示 15: 交流 i
NPUT
/o
UTPUT
R
EFERENCE
W
AVEFORMS
图示 16: 一个 t
EST
L
OAD
E
XAMPLE
349 ill f11.1
涉及 点 OUTPUTINPUT
V
它
V
IHT
V
ILT
V
OT
交流 测试 输入 是 驱动 在 v
IHT
(0.9 v
DD
) 为 一个 逻辑
“
1
”
和 v
ILT
(0.1 v
DD
) 为 一个 逻辑
“
0
”
. 度量 涉及 点
为 输入 和 输出 是 v
它
(0.5 v
DD
) 和 v
OT
(0.5 v
DD
). 输入 上升 和 下降 时间 (10%
↔
90%) 是 <5 ns.
便条:
V
它
- v
输入
Test
V
OT
- v
输出
Te s t
V
IHT
- v
输入
高 测试
V
ILT
- v
输入
低 测试
349 ill f12.2
至 tester
至 dut
C
L