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ADM1034
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典型 效能 特性
泄漏 阻抗 (m
Ω
)
温度 错误 (
°
c)
40
20
–20
0
–60
–40
–100
–80
0 10203040 5060 708090100
04918-0-004
d+ 至 地
d+ 至 v
CC
图示 4. 温度 错误 vs. pcb 追踪 阻抗 dxp 至 地 和 v
CC
电容 (nf)
温度 错误 (
°
c)
0
–10
–30
–20
–60
–70
–40
–50
–80
0426810
04918-0-005
12
dev 33 (
°
c)
dev 32 (
°
c)
dev 31 (
°
c)
图示 5. 偏远的 温度 错误 vs. d+, d− 电容
序列 阻抗 在 d+/d– 线条 (k
Ω
)
温度 错误 (
°
c)
100
90
80
70
60
50
40
30
20
10
0
–10
12 3 4 65
04918-0-006
dev 31
dev 32
dev 33
图示 6. 偏远的 温度 错误 vs. 序列 阻抗 在 d+ 和 d−
温度 错误 (
°
c)
20
15
10
5
0
–5
–10
01M2M3M4M 65M
04918-0-007
M
ext 100mvpp
ext 250mvpp
图示 7. 偏远的 温度 错误 vs. 电源 供应 噪音 频率
噪音 频率 (hz)
温度 错误 (
°
c)
50
45
40
35
30
25
20
15
10
5
00
01M2M 4M3M 5M 6M
04918-0-008
20mV
50mV
100mV
图示 8. 偏远的 温度 错误 vs. 一般模式 噪音 频率
结合 在 d+ 和 d−
噪音 频率
温度 错误 (
°
c)
4.0
3.5
3.0
2.5
1.5
2.0
1.0
0.5
0
01M 3M2M 5M4M 6M
04918-0-009
10mV
20mV
图示 9. 偏远的 温度 错误 vs. 差别的 模式 噪音 频率
结合 在 d+ 和 d−

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ADM1034 rev. 0 \| 页 8 的 40 典型效能特性泄漏阻抗 (m Ω ) 温度错误 ( ° c) 40 20 –20 0 –60 –40 –100 –80 0 10203040 5060 708090100 04918-0-004 d+ 至地 d+ 至 v CC 图示 4. 温度错误 vs. pcb 追踪阻抗 dxp 至地和 v CC 电容 (nf) 温度错误 ( ° c) 0 –10 –30 –20 –60 –70 –40 –50 –80 0426810 04918-0-005 12 dev 33 ( ° c) dev 32 ( ° c) dev 31 ( ° c) 图示 5. 偏远的温度错误 vs. d+, d− 电容序列阻抗在 d+/d– 线条 (k Ω ) 温度错误 ( ° c) 100 90 80 70 60 50 40 30 20 10 0 –10 12 3 4 65 04918-0-006 dev 31 dev 32 dev 33 图示 6. 偏远的温度错误 vs. 序列阻抗在 d+ 和 d− 温度错误 ( ° c) 20 15 10 5 0 –5 –10 01M2M3M4M 65M 04918-0-007 M ext 100mvpp ext 250mvpp 图示 7. 偏远的温度错误 vs. 电源供应噪音频率噪音频率 (hz) 温度错误 ( ° c) 50 45 40 35 30 25 20 15 10 5 00 01M2M 4M3M 5M 6M 04918-0-008 20mV 50mV 100mV 图示 8. 偏远的温度错误 vs. 一般模式噪音频率结合在 d+ 和 d− 噪音频率温度错误 ( ° c) 4.0 3.5 3.0 2.5 1.5 2.0 1.0 0.5 0 01M 3M2M 5M4M 6M 04918-0-009 10mV 20mV 图示 9. 偏远的温度错误 vs. 差别的模式噪音频率结合在 d+ 和 d−

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