11.7 15
idt49c465/一个
32-位 流动-thru 错误 发现 和 纠正 单位 军队 和 商业的 温度 范围
定义 的 条款:
D
0
– d
31
= 系统 数据 和/或者 记忆 数据 输入
CBI
0
– cbi
7
= checkbit 输入
PCBI
0
– pcbi
7
= partial checkbit 输入
FS
0
– fs
7
= 最终 内部的 syndrome 位
函数的 equations:
这 equations 在下 describe 这 条款 使用 在 这
idt49c465 至 决定 这 值 的 这 partial checkbits,
checkbits, partial syndromes 和 最终 内部的 syndromes.
便条: 所有 “
⊕
” symbols 在下 代表 这 “exclusive-
or” 函数.
pa = d
0
⊕
D
1
⊕
D
2
⊕
D
4
⊕
D
6
⊕
D
8
⊕
D
10
⊕
D
12
⊕
D
16
⊕
D
17
⊕
D
18
⊕
D
20
⊕
D
22
⊕
D
24
⊕
D
26
⊕
D
28
铅 = d
0
⊕
D
3
⊕
D
4
⊕
D
7
⊕
D
9
⊕
D
10
⊕
D
13
⊕
D
15
⊕
D
16
⊕
D
19
⊕
D
20
⊕
D
23
⊕
D
25
⊕
D
26
⊕
D
29
⊕
D
31
pc = d
0
⊕
D
1
⊕
D
5
⊕
D
6
⊕
D
7
⊕
D
11
⊕
D
12
⊕
D
13
⊕
D
16
⊕
D
17
⊕
D
21
⊕
D
22
⊕
D
23
⊕
D
27
⊕
D
28
⊕
D
29
pd = d
2
⊕
D
3
⊕
D
4
⊕
D
5
⊕
D
6
⊕
D
7
⊕
D
14
⊕
D
15
⊕
D
18
⊕
D
19
⊕
D
20
⊕
D
21
⊕
D
22
⊕
D
23
⊕
D
30
⊕
D
31
pe = d
8
⊕
D
9
⊕
D
10
⊕
D
11
⊕
D
12
⊕
D
13
⊕
D
14
⊕
D
15
⊕
D
24
⊕
D
25
⊕
D
26
⊕
D
27
⊕
D
28
⊕
D
29
⊕
D
30
⊕
D
31
pf = d
0
⊕
D
1
⊕
D
2
⊕
D
3
⊕
D
4
⊕
D
5
⊕
D
6
⊕
D
7
⊕
D
24
⊕
D
25
⊕
D
26
⊕
D
27
⊕
D
28
⊕
D
29
⊕
D
30
⊕
D
31
pg = d
8
⊕
D
9
⊕
D
10
⊕
D
11
⊕
D
12
⊕
D
13
⊕
D
14
⊕
D
15
⊕
D
16
⊕
D
17
⊕
D
18
⊕
D
19
⊕
D
20
⊕
D
21
⊕
D
22
⊕
D
23
PH
0
= d
0
⊕
D
4
⊕
D
6
⊕
D
7
⊕
D
8
⊕
D
9
⊕
D
11
⊕
D
14
⊕
D
17
⊕
D
18
⊕
D
19
⊕
D
21
⊕
D
26
⊕
D
28
⊕
D
29
⊕
D
31
PH
1
= d
1
⊕
D
2
⊕
D
3
⊕
D
5
⊕
D
8
⊕
D
9
⊕
D
11
⊕
D
14
⊕
D
17
⊕
D
18
⊕
D
19
⊕
D
21
⊕
D
24
⊕
D
25
⊕
D
27
⊕
D
30
PH
2
= d
0
⊕
D
4
⊕
D
6
⊕
D
7
⊕
D
10
⊕
D
12
⊕
D
13
⊕
D
15
⊕
D
16
⊕
D
20
⊕
D
22
⊕
D
23
⊕
D
26
⊕
D
28
⊕
D
29
⊕
D
31
cmos 测试 仔细考虑
特定的 测试 板 仔细考虑 必须 是 带去 在
账户 当 应用 高-速 cmos 产品 至 这
自动 测试 环境. 大 输出 电流 是 正在
切换 在 非常 短的 时期 和 恰当的 测试 要求
那 测试 设置-ups 有 使减少到最低限度 电感 和 有保证的
零 电压 grounds. 这 技巧 列表 在下 将 assist
这 用户 在 获得 精确 测试 结果:
1) 所有 输入 管脚 应当 是 连接 至 一个 电压 潜在的
在 测试. 如果 left floating, 这 设备 将 oscillate,
造成 improper 设备 运作 和 可能 latchup.
2) placement 和 值 的 解耦 电容 是 核心的.
各自 物理的 设置-向上 有 不同的 电的
特性 和 它 是 推荐 那 各种各样的
解耦 电容 sizes 是 experimented 和.
电容 应当 是 positioned 使用 这 最小 含铅的
长度. 它们 应当 也 是 distributed 至 分离
电源 供应 线条 和 是 放置 作 关闭 作 可能 至
这 dut 电源 管脚.
3) 设备 grounding 是 极其 核心的 为 恰当的 设备
测试. 这 使用 的 multi-layer 效能 boards 和
放射状的 解耦 在 电源 和 地面 平面 是
需要. 这 地面 平面 必须 是 sustained 从 这
效能 板 至 这 dut 接口 板 和 线路
unused interconnect 管脚 至 这 地面 平面 是 recom-
mended. 重的 gauge stranded 线 应当 是 使用 为
电源 线路, 和 twisted pairs 正在 推荐 为
使减少到最低限度 电感.
4) 至 保证 数据 薄板 遵从, 这 输入 门槛
应当 是 测试 每 输入 管脚 在 一个 静态的 环境. 至
准许 为 测试 和 硬件-induced 噪音, idt recom-
mends 使用 v
IL
≤
0v 和 v
IH
≥
3v 为 交流 tests.