c-124
S一个metype
device作
D.U.T.
D.U.T.
430µF
80%
ofVce
图. 18a
-测试 电路 为 度量 的
I
LM
, e
在
, e
止(二极管)
, t
rr
, q
rr
, i
rr
, t
d(在)
, t
r
, t
d(止)
, t
f
IRGPC40FD2
t1
Ic
Vce
t1
t2
90%Ic
10%Vce
td(off)
tf
Ic
5%Ic
t1+5µS
Vceicdt
90%Vge
+Vge
∫
Eoff=
图. 18b
-测试 波形 为 电路 的 图. 18a, defining
E
止
, t
d(止)
, t
f
∫
Vceiedt
t2
t1
5%Vce
Ic
Ipk
Vcc
10%Ic
Vce
t1
t2
DUTVOLT一个GE
一个NDCURRENT
G一个TEVOLT一个GED.U.T.
+Vg
10%+Vg
90%Ic
tr
td(在)
DIODEREVERSE
RECOVERYENERGY
tx
E在=
∫
Erec=
t4
t3
Vdiddt
t4
t3
DIODERECOVERY
WAVEFORMS
Ic
Vpk
10%Vcc
Irr
10%Irr
Vcc
trr
∫
Qrr=
trr
tx
iddt
图. 18c
-测试 波形 为 电路 的 图. 18a,
defining e
在
, t
d(在)
, t
r
图. 18d
-测试 波形 为 电路 的 图. 18a,
defining e
rec
, t
rr
, q
rr
, i
rr
谈及 至 部分 d 为 这 下列的:
附录 d:部分 d - 页 d-6
图. 18e - macro 波形 为 测试 电路 的 图. 18a
图. 19 - clamped inductive 加载 测试 电路
图. 20 - 搏动 集电级 电流 测试 电路
包装 外形 3
- 电子元件工业联合会 外形 至-247ac (至-3p)
部分 d - 页 d-13
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