数据 薄板
4 mbit lpc firmware flash
SST49LF004B
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©2003 硅 存储 技术, 公司 s71232-02-000 12/03
图示 8: lclk w
AVEFORM
(lpc m
ODE
)
表格 17: R
ELIABILITY
C
HARACTERISTICS
标识 参数
最小
规格 单位 测试 方法
N
终止
1
忍耐力 10,000 循环 电子元件工业联合会 标准 a117
T
DR
1
数据 保持 100 年 电子元件工业联合会 标准 a103
I
LTH
1
获得 向上 100 + i
DD
毫安 电子元件工业联合会 标准 78
t17.0 1232
1. 这个 参数 是 量过的 仅有的 为 initial 资格 和 之后 一个 设计 或者 process 改变 那 可以 影响 这个 parameter.
表格 18: C
锁
T
IMING
P
ARAMETERS
(lpc m
ODE
)
标识 参数 最小值 最大值 单位
T
CYC
lclk 循环 时间 30 ns
T
高
lclk 高 时间 11 ns
T
低
lclk 低 时间 11 ns
- lclk 回转 比率 (顶峰-至-顶峰) 1 4 v/ns
- rst# 或者 init# 回转 比率 50 mv/ns
t18.0 1232
1232 f07.0
0.4 v
DD
p-至-p
(最小)
T
cyc
T
高
T
低
0.4 v
DD
0.3 v
DD
0.6 v
DD
0.2 v
DD
0.5 v
DD
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