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数据 薄板
4 mbit lpc firmware flash
SST49LF004B
©2003 硅 存储 技术, 公司 s71232-02-000 12/03
图示 11: R
ESET
T
IMING
D
IAGRAM
(lpc m
ODE
)
表格 21: I
NTERFACE
M
EASUREMENT
C
ONDITION
P
ARAMETERS
(lpc m
ODE
)
标识 值 单位
V
TH
1
0.6 v
DD
V
V
TL
1
0.2 v
DD
V
V
测试
0.4 v
DD
V
V
最大值
1
0.4 v
DD
V
输入 信号 边缘 比率 1 v/ns
t21.0 1232
1. 这 输入 测试 环境 是 完毕 和 0.1 v
DD
的 overdrive 在 v
IH
和 v
IL
. 定时 参数 必须 是 符合 和 非 更多 在-
驱动 比 这个. v
最大值
specifies 这 最大 顶峰-至-顶峰 波形 允许 为 测量 输入 定时. 生产 测试 将 使用
不同的 电压 值, 但是 必须 correlate 结果 后面的 至 这些 参数.
表格 22: R
ESET
T
IMING
P
ARAMETERS
, v
DD
=3.0-3.6v (lpc m
ODE
)
标识 参数 最小值 最大值 单位
T
PRST
V
DD
稳固的 至 重置 低 1 ms
T
KRST
时钟 稳固的 至 重置 低 100 µs
T
RSTP
rst# 脉冲波 宽度 100 ns
T
RSTF
rst# 低 至 输出 float 48 ns
T
RST
1
1. 那里 将 是 一个 latency 预定的 至 t
RSTE
如果 一个 重置 程序 是 执行在 一个 程序 或者 擦掉 运作,
rst# 高 至 lframe# 低 1 µs
T
RSTE
rst# 低 至 重置 在 sector-/块-擦掉 或者 程序 10 µs
t22.0 1232
CLK
V
DD
rst#/init#
LFRAME#
lad[3:0]
1232 f08.0
T
PRST
T
KRST
T
RSTP
T
RSTF
T
RSTE
sector-/块-擦掉
或者 程序 运作
aborted
T
RST
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