SST39SF010-70-4C-WH_集成电路资料查询网

数据 薄板
512 kbit / 1 mbit multi-目的 flash
sst39sf512 / sst39sf010
15
©2001 硅 存储 技术, 公司 s71149-03-000 4/01 394
图示 13: 交流 i
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交流 测试 输入 是 驱动 在 v
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“
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”
. 度量 涉及 点 为
输入 和 输出 是 v
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(2.0 v) 和 v
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(0.8 v). 输入 上升 和 下降 时间 (10%
↔
90%) 是 <10 ns.
便条:
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- v
高
Test
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394 ill f12.1
测试 加载 例子
至 tester
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数据薄板 512 kbit / 1 mbit multi-目的 flash sst39sf512 / sst39sf010 15 ©2001 硅存储技术, 公司 s71149-03-000 4/01 394 图示 13: 交流 i NPUT /o UTPUT R EFERENCE W AVEFORMS 图示 14: 一个 t EST L OAD E XAMPLE 394 ill f11.0 涉及点 OUTPUTINPUT V HT V LT V HT V LT V IHT V ILT 交流测试输入是驱动在 v IHT (2.4v) 为一个逻辑 “ 1 ” 和 v ILT (0.4 v) 为一个逻辑 “ 0 ” . 度量涉及点为输入和输出是 v HT (2.0 v) 和 v LT (0.8 v). 输入上升和下降时间 (10% ↔ 90%) 是 <10 ns. 便条: V HT - v 高 Test V LT - v 低 Test V IHT - v 输入高测试 V ILT - v 输入低测试 394 ill f12.1 测试加载例子至 tester 至 dut C L R l 低 R L 高 V DD

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