8
图示 1c. 度量 点
图示 1. 转变 时间
图示 2a. dg406 测试 电路 图示 2b. dg407 测试 电路
图示 2c. 度量 点
图示 2. 使能 切换 时间
图示 3a. 测试 电路 图示 3b. 度量 点
图示 3. 破裂-在之前-制造 间隔
测试 电路 和 波形
(持续)
逻辑
输入
转变
输出
V
O
3V
V
S1B
50%
t
r
< 20ns
t
f
< 20ns
t
TRANS
50%
0V
0V
V
S8B
t
TRANS
S
8
在
80%
80%
S
1
在
V
S8
V
S1
EN
A3
DG406
地
一个
2
一个
1
S
1
S
2
- s
16
D
v-
V+
-5v
V
O
35pF300
Ω
50
Ω
+15V
-15v
一个
0
逻辑
输入 v
在
EN
一个
0
DG407
地
一个
1
一个
2
S
1B
†
D
一个
和 d
B
v-
V+
-5v
V
O
35pF
300
Ω
50
Ω
+15V
-15v
†
= s
1A
- s
8A
, s
2B
- s
8B
, d
一个
逻辑
输入 v
在
逻辑
输入
转变
输出
V
O
3V
V
O
50%
t
r
< 20ns
t
f
< 20ns
t
在(en)
0V
50%
t
止(en)
90%
0V
V
在
V
O
EN
A3
DG406
地
一个
2
一个
1
所有 s
d,
v-
V+
+5v (v
S
)
V
O
35pF300
Ω
50
Ω
+15V
+2.4v
-15v
一个
0
DG407
和 d
一个
D
B
逻辑
输入
逻辑
输入
转变
输出
V
O
3V
V
S
t
r
< 20ns
t
f
< 20ns
t
打开
0V
0V
80%
dg406, dg407
: 点此下载
