2003 8月 13 12
飞利浦 半导体 产品 规格
x-tal 驱动器 74LVC1GX04
设计
图示 10 显示 这 推荐 方法 至 连接 一个
结晶 至 这 74lvc1gx04. 这个 电路 是 basically 一个
Pierce 振荡器 电路 在 这个 这 结晶 是 运行 在
它的 基本的 频率 和 是 tuned 用 这 并行的 加载
电容 的 C
1
和 C
2
.c
1
和 C
2
是 在 序列 和 这
结晶. 它们 应当 是 大概 equal. r
1
是 这
驱动-限制的 电阻 和 是 设置 至 大概 这 一样
值 作 这 reactance 的 c
1
在 这 结晶 频率
(r
1
=X
C1
). 这个 将 结果 在 一个 输入 至 这 结晶 的 50%
的 这 栏杆-至-栏杆 输出 的 x2. 这个 keeps 这 驱动 水平的
在 这 结晶 在里面 驱动 规格 (这 设计者
应当 核实 这个). overdriving 这 结晶 能 导致
损坏.
这 电阻 R
f
提供 负的 反馈 和 sets 一个 偏差
要点 的 这 反相器 near mid-供应, 运行 这
74lvc1gu04 在 这 高 增益 直线的 区域. 这 值 的
R
f
是 不 核心的, 典型地 它 是 设置 在 1 M
Ω
.
至 计算 这 值 的 C
1
和 C
2
, 这 设计者 能 使用
这 formula:
C
L
是 这 加载 电容 作 指定 用 这 结晶
生产者, c
s
是 这 偏离 电容 的 这 电路
(为 这 lvc1gx04 这个 是 equal 至 一个 输入 电容
的 5 pf).
测试
之后 这 calculations 是 执行 为 一个 particular 结晶,
这 振荡器 电路 应当 是 测试. 这 下列的 简单的
checks 将 核实 这 prototype 设计 的 一个 结晶
控制 振荡器 电路. 执行 它们 之后 laying 输出
这 板:
•
测试 这 振荡器 在 worst-情况 情况 (最低
供应 电压, worst-情况 结晶 和 最高的 运行
温度). adding 序列 和 并行的 电阻器 能
simulate 一个 worse 情况 结晶.
•
insure 那 这 电路 做 不 oscillate 没有 这
结晶.
•
审查 这 频率 稳固 在 一个 供应 范围
更好 比 那 这个 是 likely 至 出现 在 正常的
运作.
•
审查 那 这 开始 向上 时间 是 在里面 系统
(所需的)东西.
作 这 74LVC1GX04 isolates 这 系统 加载, once 这
设计 是 优化, 这 单独的 布局 将 工作 在 多样的
产品 为 任何 给 结晶.
C
L
C
1
C
2
×
C
1
C
2
+
--------------------
C
s
+=
MNB103
handbook, halfpage
R
f
74LVC1GU04
portion
74LVC1G04
portion
系统 加载
Xtal C
1
R
sys
C
sys
C
2
X2
Y
X1
图.10 结晶 振荡器 配置.
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