3
供应 电流 -i
CC
所有 途径 v
一个
= 0v 1 25 -2.0 - µA
2, 3 -55 至 125 -2.0 - µA
所有 途径 v
一个
= 3v 1 25 -2.0 - µA
2, 3 -55 至 125 -2.0 - µA
表格 1. d.c. 电的 效能 规格 (持续)
设备 测试 在:
+
V
供应
=
+
15v,
−
V
供应
=
−
15v, v
REF
= 打开, 地 = 0v, 除非 否则 指定.
d.c. 参数 标识 情况
组 一个
SUBGROUPS
温度
(
o
c) 最小值 最大值 单位
表格 2. 一个.c. 电的 效能 规格
设备 测试 在:
+
V
供应
=
+
15v,
−
V
供应
=
−
15v, v
REF
= 打开, 地 = 0v, 除非 否则 指定.
参数 标识 情况
组 一个
sub-
GROUPS
温度
(
o
c) 最小值 最大值 单位
转变 “on” 时间 t
在
C
L
= 35pf,
R
L
= 1k
Ω
9 25 - 500 ns
10, 11 55 至 125 - 800 ns
转变 “off” 时间 t
止
C
L
= 33pf,
R
L
= 1k
Ω
9 25 - 500 ns
10, 11 55 至 125 - 650 ns
表格 3. 电的 performance 规格 (便条 1)
设备 测试 在:
+
V
供应
=
+
15v,
−
V
供应
=
−
15v, v
REF
= 打开, 地 = 0v
参数 标识 情况 便条
温度
(
o
c) 最小值 最大值 单位
地址 电容 C
一个
f = 1mhz, v
AL
= 0v 1 25 - 20 pF
switches 输入
电容
C
s (止)
f = 1mhz, v
AH
= 5v,
量过的 源 至 地
1 25 - 20 pF
转变 输出 电容 C
d (止)
f = 1mhz, v
AH
= 5v,
量过的 输出 至 地面
1 25 - 20 pF
C
d (在)
f = 1mhz, v
AL
= 0v,
量过的 输出 至 地面
1 25 - 30 pF
流 至 源
电容
C
DS
f = 1mhz, v
AH
= 5v 1 25 - 2.0 pF
止 分开 V
ISO
f = 200khz, v
一个
= 2.4, r
L
= 1k,
V
GEN
= 1v
p-p,
C
L
= 10pf
12555-db
交叉 表达 V
CT
f = 200khz, v
一个
= 2.\4, r
L
= 1k,
V
GEN
= 1v
p-p,
C
L
= 10pf
12560-db
承担 转移 错误 V
CTE
f = 200khz, v
一个
= 0 至 4v,
C
L
= 0.01µf
1 25 -10 10 mV
便条:
1. 参数 列表 在 表格 2 是 控制 通过 设计 或者处理 参数 和 是 不 directly 测试 在 最终 生产.这些 参数
是 lab 典型 在之上 最初的 设计 release, 或者 在之上 设计 改变. 这些 parameters 是 有保证的 用 描绘为基础 在之上
数据 从 多样的 生产 runs 这个 反映 lot 至 lot 和 在里面 lot 变化.
表格 4. 电的 测试 (所需的)东西
mil-标准-883 测试 (所需的)东西 SUBGROUPS
(tables 1 和 2)
interim 电的 参数 (前 烧-在) 1
最终 电的 测试 参数 1 (便条 2), 2, 3, 9, 10, 11
组 一个 测试 (所需的)东西 1, 2, 3, 9, 10, 11
groups c &放大; d endpoints 1
便条:
2. pda 应用 至 subgroup 1 仅有的.
hi-200/883
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