HI3-0546-5_集成电路资料查询网

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图示 7a. 测试 电路 图示 7b. 度量 点
图示 7c. 波形
图示 7. 破裂-在之前-制造 延迟
图示 8a. 测试 电路 图示 8b. 度量 点
测试 电路 和 波形
T
一个
=25
o
c, V
供应
=
±
15v, V
AH
=4v,v
AL
= 0.8v, V
REF
= 打开, 除非 否则 指定
(持续)
在 1
在 2 thru
在 16
输出
一个
0
EN
一个
1
50pF
V
输出
一个
3
一个
2
50
Ω
V
一个
+4V
地
1k
Ω
在 15
hi-546
†
†
类似的 连接 为 hi-547/hi-548/hi-549
+5V
50% 50%
V
AH
= 4v
0V
输出
地址
驱动 (v
一个
)
t
打开
S
1
在
S
16
在
V
一个
输入
2v/div.
输出
0.5v/div.
100ns/div.
在 1
在 2 thru
输出
一个
0
EN
一个
1
50pF
一个
3
一个
2
V
一个
地
1k
Ω
+10V
IN16
hi-546
†
†
类似的 连接 为 hi-547/hi-548/hi-549
50
Ω
V
输出
50%
90%
t
在(en)
V
AH
= 4v
0V
输出
t
止(en)
10%
50%
使能 驱动
(v
一个
)
0V
hi-546, hi-547, hi-548, hi-549

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12 图示 7a. 测试电路图示 7b. 度量点图示 7c. 波形图示 7. 破裂-在之前-制造延迟图示 8a. 测试电路图示 8b. 度量点测试电路和波形 T 一个 =25 o c, V 供应 = ± 15v, V AH =4v,v AL = 0.8v, V REF = 打开, 除非否则指定 (持续) 在 1 在 2 thru 在 16 输出一个 0 EN 一个 1 50pF V 输出一个 3 一个 2 50 Ω V 一个 +4V 地 1k Ω 在 15 hi-546 † † 类似的连接为 hi-547/hi-548/hi-549 +5V 50% 50% V AH = 4v 0V 输出地址驱动 (v 一个 ) t 打开 S 1 在 S 16 在 V 一个输入 2v/div. 输出 0.5v/div. 100ns/div. 在 1 在 2 thru 输出一个 0 EN 一个 1 50pF 一个 3 一个 2 V 一个地 1k Ω +10V IN16 hi-546 † † 类似的连接为 hi-547/hi-548/hi-549 50 Ω V 输出 50% 90% t 在(en) V AH = 4v 0V 输出 t 止(en) 10% 50% 使能驱动 (v 一个 ) 0V hi-546, hi-547, hi-548, hi-549

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