SST39VF1601-70-4I-B3K_集成电路资料查询网

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初步的 规格
16 mbit / 32 mbit / 64 mbit multi-目的 flash 加
sst39vf1601 / sst39vf3201 / sst39vf6401
sst39vf1602 / sst39vf3202 / sst39vf6402
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图示 17: 交流 i
NPUT
/o
UTPUT
R
EFERENCE
W
AVEFORMS
图示 18: 一个 t
EST
L
OAD
E
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1223 f14.0
涉及 点 OUTPUTINPUT
V
它
V
IHT
V
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V
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交流 测试 输入 是 驱动 在 v
IHT
(0.9 v
DD
) 为 一个 逻辑 “1” 和 v
ILT
(0.1 v
DD
) 为 一个 逻辑 “0”. 度量 涉及 点
为 输入 和 输出 是 v
它
(0.5 v
DD
) 和 v
OT
(0.5 v
DD
). 输入 上升 和 下降 时间 (10%
↔
90%) 是 <5 ns.
便条:
V
它
- v
输入
Test
V
OT
- v
输出
Te s t
V
IHT
- v
输入
高 测试
V
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- v
输入
低 测试
1223 f15.0
至 tester
至 dut
C
L

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22 初步的规格 16 mbit / 32 mbit / 64 mbit multi-目的 flash 加 sst39vf1601 / sst39vf3201 / sst39vf6401 sst39vf1602 / sst39vf3202 / sst39vf6402 ©2003 硅存储技术, 公司 s71223-03-000 11/03 图示 17: 交流 i NPUT /o UTPUT R EFERENCE W AVEFORMS 图示 18: 一个 t EST L OAD E XAMPLE 1223 f14.0 涉及点 OUTPUTINPUT V 它 V IHT V ILT V OT 交流测试输入是驱动在 v IHT (0.9 v DD ) 为一个逻辑 “1” 和 v ILT (0.1 v DD ) 为一个逻辑 “0”. 度量涉及点为输入和输出是 v 它 (0.5 v DD ) 和 v OT (0.5 v DD ). 输入上升和下降时间 (10% ↔ 90%) 是 <5 ns. 便条: V 它 - v 输入 Test V OT - v 输出 Te s t V IHT - v 输入高测试 V ILT - v 输入低测试 1223 f15.0 至 tester 至 dut C L

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