IGA03N120H2
电源 半导体
7 三月-04, rev. 2.0
E
,
切换 活力 losses
0A 2A 4A
0.0mj
0.5mj
1.0mj
E
在
1
E
止
E
ts
1
E
,
切换 活力 losses
0
Ω
50
Ω
100
Ω
150
Ω
200
Ω
250
Ω
0.2mj
0.3mj
0.4mj
0.5mj
0.6mj
0.7mj
E
在
1
E
ts
1
E
止
I
C
,
集电级 电流
R
G
,
门 电阻
图示 13. 典型 切换 活力 losses
作 一个 函数 的 集电级 电流
(inductive 加载,
T
j
= 150
°
c,
V
CE
= 800v,
V
GE
= +15v/0v,
R
G
= 82
Ω
,
动态 测试 电路 在 图.e )
图示 14. 典型 切换 活力 losses
作 一个 函数 的 门 电阻
(inductive 加载,
T
j
= 150
°
c,
V
CE
= 800v,
V
GE
= +15v/0v,
I
C
= 3a,
动态 测试 电路 在 图.e )
E
,
切换 活力 losses
25°C 80°C 125°C 150°C
0.1mj
0.2mj
0.3mj
0.4mj
0.5mj
E
ts
1
E
在
1
E
止
E
止
,
转变 止 切换 活力 丧失
0v/美国 1000v/美国 2000v/美国 3000v/美国
0.00mj
0.04mj
0.08mj
0.12mj
0.16mj
I
C
=1a,
T
J
=150°C
I
C
=1a,
T
J
=25°C
I
C
=3a,
T
J
=150°C
I
C
=3a,
T
J
=25°C
T
j
,
接合面 温度
dv/dt
, 电压
斜度
图示 15. 典型 切换 活力 losses
作 一个 函数 的 接合面 温度
(inductive 加载,
V
CE
= 800v,
V
GE
= +15v/0v,
I
C
= 3a,
R
G
= 82
Ω
,
动态 测试 电路 在 图.e )
图示 16. 典型 转变 止 切换 活力
丧失 为 软 切换
(
动态 测试 电路 在 图. e
)
1
)
E
在
和
E
ts
包含 losses
预定的 至 二极管 恢复.
1
)
E
在
和
E
ts
包含 losses
预定的 至 二极管 恢复.
1
)
E
在
和
E
ts
包含 losses
预定的 至 二极管 恢复.
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