设备 组成公司的
video imaging 产品
11
LF3304
双 线条 缓存区/先进先出
08/16/2000–lds.3304-f
1. 最大 比率 表明 压力
规格 仅有的. 函数的 oper-
ation 的 这些 产品 在 值 在之外
那些 表明 在 这 运行 condi-
tions 表格 是 不 暗指. 暴露 至
最大 比率 情况 为 ex-
tended 时期 将 影响 可靠性.
2. 这 产品 描述 用 这个 规格-
ification 包含 内部的 电路系统 de-
signed至 保护 这 碎片从 损害的
基质 injection 电流 和 accu-
mulations 的 静态的 承担. neverthe-
较少, 常规的 预防措施 应当
是 observed 在 存储, 处理,
和 使用 的 这些 电路 在 顺序 至 避免
暴露 至 过度的 电的 压力
值.
3. 这个 设备 提供 hard 夹紧
的 瞬时 undershoot. 输入 水平
在下 地面 将 是 clamped begin-
ning 在 –0.6 v. 这 设备 能 承受
indefinite 运作 和 输入 或者输出-
puts 在 这 范围 的 –0.5 v 至 +5.5 v.
设备 运作 将 不 是 反而
影响, 不管怎样, 输入 电流 水平
将 是 好 在 excess 的 100 毫安.
4. 真实的 测试 情况 将 相异 从
那些 designated 但是 运作 是 guar-
anteed 作 指定.
5. 供应 电流 为 一个 给 applica-
tion 能 是 准确地 近似
用:
在哪里
N = 总的 号码 的 设备 输出
C = 电容的 加载 每 输出
V = 供应 电压
F = 时钟 频率
6. 测试 和 输出 changing 每
循环 和 非 加载, 在 一个 40 mhz 时钟 比率.
7. 测试 和 所有 输入 在里面 0.1 v 的
V
CC
或者 地面, 非 加载.
8. 这些 参数 是 有保证的 但是
不 100% 测试.
9. 交流 规格 是 测试 和
ncv f
4
2
注释
输入 转变 时间 较少 比 3 ns,
输出 涉及 水平 的 1.5 v (除了
t
DIS
测试), 和 输入 水平 的 nominally
0 至 3.0 v. 输出 加载 将 是 一个
resistive 分隔物 这个 提供 为
指定
I
OH
和
I
OL
在 一个 输出
电压 的
V
OH
最小值 和
V
OL
最大值
各自. alternatively, 一个 二极管
桥 和 upper 和 更小的 电流
来源 的
I
OH
和
I
OL
各自,
和 一个保持平衡 电压 的 1.5 v 将 是
使用. parasitic 电容 是 30 pf
最小, 和 将 是 distributed.
这个 设备 有 高-速 输出 ca-
pable 的 大 instantaneous 电流
脉冲 和 快 转变-在/转变-止 时间.
作 一个 结果, 小心 必须 是 exercised 在 这
测试 的 这个 设备. 这 下列的
measures 是 推荐:
一个. 一个 0.1 µf 陶瓷的 电容 应当 是
安装 在
V
CC
和 地面
leads 作 关闭 至 这 设备 下面 测试
(dut) 作 可能. 类似的 电容
应当 是 安装 在 设备
V
CC
和 这 tester 一般, 和 设备
地面 和 tester 一般.
b. 地面 和
V
CC
供应 平面 必须
是 brought 直接地 至 这 dut 插座 或者
contactor fingers.
c. 输入 电压 在 一个 测试 fixture 应当
是 调整 至compensate 为 inductive
地面 和
V
CC
噪音 至 维持 re-
quired dut 输入 水平 相关的 至 这
dut 地面 管脚.
10. 各自 参数 是 显示 作 一个 迷你-
mum 或者 最大 值. 输入 需要-
ments 是 指定 从 这 要点 的 视图
的 这 外部 系统 驱动 这 碎片.
建制 时间, 为 例子, 是 指定 作 一个
最小 自从 这 外部 系统 必须
供应 在 least 那 更 时间 至 满足 这
worst-情况 (所需的)东西 的 所有 部分.
responses 从 这 内部的 电路系统 是
指定 从 这 要点 的 视图 的 这
设备. 输出 延迟, 为 例子, 是
指定 作 一个 最大 自从 worst-
情况 运作 的 任何 设备 总是 pro-
vides 数据 在里面 那 时间.
11. 为 这
t
ENA
测试, 这 转变 是
量过的 至 这 1.5 v 越过 要点 和
数据手册 负载. 为 这
t
DIS
测试, 这
转变 是 量过的 至 这 ±200mv
水平的 从 这 量过的 稳步的-状态
输出 电压 和 ±10ma 负载.
这 保持平衡 电压, v
TH
, 是 设置 在
3.0 v 为 z-至-0 和 0-至-z tests, 和
设置 在 0 v 为 z-至-1 和 1-至-z tests.
12. 这些 参数 是 仅有的 测试 在
这 高 温度 extreme, 这个 是
这 worst 情况 为 泄漏 电流.
S1
I
OH
I
OL
V
TH
C
L
DUT
OE
0.2 v
t
DIS
t
ENA
0.2 v
1.5 v 1.5 v
3.0v vth
1
Z
0
Z
Z
1
Z
0
1.5 v
1.5 v
0v vth
V
OL
*
V
OH
*
V
OL
*
V
OH
*
量过的 v
OL
和 i
OH
= –10ma 和 i
OL
= 10ma
量过的 v
OH
和 i
OH
= –10ma 和 i
OL
= 10ma
F
IGURE
b. t
HRESHOLD
L
EVELS
F
IGURE
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L
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