mcp3302/04
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2002 微芯 技术 公司
3.0 测试 电路
图示 3-1:
加载 电路 为 t
R
, t
F
,
T
做
.
图示 3-2:
加载 电路 为
T
DIS
和
T
EN
.
图示 3-3:
电源 供应 敏锐的
测试 电路 (psrr).
图示 3-4:
全部 差别的 测试
配置 例子.
图示 3-5:
pseudo 差别的 测试
配置 例子.
TestPoint
1.4v
D
输出
3k
Ω
C
L
= 100 pF
MCP330X
*waveform 1 是 为 一个 输出 和 内部的 con-
ditions 此类 那 这 输出 是 高, 除非 dis-
abled 用 这 输出 控制.
†waveform 2 是 为 一个 输出 和 内部的 con-
ditions 此类 那 这 输出 是 低, 除非 dis-
abled 用 这 输出 控制.
TestPoint
D
输出
3k
Ω
100 pF
T
DIS
波形 2
T
DIS
波形 1
T
EN
波形
V
DD
V
DD
/2
V
SS
V
IH
T
DIS
CS
D
输出
波形 1*
D
输出
波形 2†
90%
10%
电压 波形 为 t
DIS
MCP330X
2.63v
-
+
1k
Ω
5v ±500 mv
p-p
5V
P
-
P
1k
Ω
20 k
Ω
至V
DD
在 dut
1k
Ω
1/2
MCP602
V
DD
= 5v
0.1 µF
在(+)
在(-)
MCP330X
5V
p-p
V
REF
= 5v
5V
p-p
V
CM
= 2.5v
1µF
0.1 µF
V
REF
V
DD
V
SS
0.1µf
在(+)
在(-)
MCP330X
V
DD
= 5v
V
CM
= 2.5v
5V
p-p
V
REF
= 2.5v
1µF
0.1µf
V
REF
V
DD
V
SS
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