45DB081B_集成电路资料查询网

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在-45db081b
塑料 包装
125
°
c 运行 生命 测试
LOT 日期 样本 总的 号码
号码 代号 大小 ckt-hrs(k) 的 failures
0t0280-4 0T0108 100 100.0 0
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3H0396A 3H0334 90 90.0 0
失败 比率
总的 设备 小时 1,380,000 设备 小时
最好的 估计
λ
= 0.05% 每 1,000 小时
50
°
c 包围的 extrapolation 至 50
°
c 通过 arrhennius
等式 和 触发 活力 的
0.5ev
λ
= 0.002% 每 1,000 小时 (17 合适的)
信心 估计
λ
60 = 0.002% 每 1,000 小时
60% 信心 (23 合适的)
λ
90 = 0.006% 每 1,000 小时
90% 信心 (57 合适的)

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页3的 6 在-45db081b 塑料包装 125 ° c 运行生命测试 LOT 日期样本总的号码号码代号大小 ckt-hrs(k) 的 failures 0t0280-4 0T0108 100 100.0 0 0s1954-11 0S0104 100 100.0 0 0s1955-1 0S0051 200 200.0 0 1W0370 1W0117 100 100.0 0 0zc336-1 0Z0117 100 100.0 0 0t0814-1 0T0116 300 300.0 0 0ZG316 0Z0126 100 100.0 0 1W0359 1W0126 100 100.0 0 1W0354 1W0126 90 90.0 0 1T6007 1T0249 100 100.0 0 3H0396A 3H0334 90 90.0 0 失败比率总的设备小时 1,380,000 设备小时最好的估计 λ = 0.05% 每 1,000 小时 50 ° c 包围的 extrapolation 至 50 ° c 通过 arrhennius 等式和触发活力的 0.5ev λ = 0.002% 每 1,000 小时 (17 合适的) 信心估计 λ 60 = 0.002% 每 1,000 小时 60% 信心 (23 合适的) λ 90 = 0.006% 每 1,000 小时 90% 信心 (57 合适的)

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