质量 和 可靠性 assurance / 处理 预防措施
030901
qua-23 2002-02-20
2.1.2 writing 一个 otp 类型 微控制器-推荐 流动
在 这 情况 的 blank otp (一个 时间 prom) 类型 mcu, 它 是 不
完全地 可能 至 screen defect 部分 那 出现 在 组装
处理, 因为 它 是 不 可能 至 执行 程序编制 测试 之后 一个
碎片 是 聚集 在 一个 塑料 包装.
作 一个 结果, 它 是 推荐 至 做 这 下列的 放映 处理 至
维持 质量 和 可靠性 的 otp 类型 mcu 之后 数据 是
编写程序.
程序编制 和 verification 和 一个
非易失存储器 programmer.
贮存 在 高 温度.
125°c, 更多 比 20 小时.
数据 verification 和 一个 非易失存储器 programmer
板 组装
为 详细信息 的 这 最初的 失败 比率 的 otp-类型 微控制器 当
放映 是 不 执行 在 125
°
c 为 20 小时 或者 更多 之后
程序编制, 请 联系 your toshiba local offices.
图示 2.3 推荐 放映 流动 chart 的 类型 mcu
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