初步的
微处理器 和 应用明确的 整体的 电路 (asics) pose 许多 设计
challenges, 一个 问题 正在 这 accessibility 的测试 点. jtag formed在 回馈 至 这个
challenge, 结果 在 ieee standard 1149.1, 这 标准 测试 进入 端口 和 boundary scan
architecture.
这 jtag boundary scan 测试 methodology allows 完全 observation 和 控制 的 这
boundary 管脚 的 一个 jtag-compatible 设备 通过 jtag 软件. 一个 测试 进入 端口 (tap)
控制 工作 在 concert 和这 操作指南 寄存器 (ir),这个 准许 用户 至 run 三
必需的 tests along 和一些 用户-定义 tests.
jtag tests 准许 用户 至 减少 系统 debug时间, reuse 测试 platforms 和 tools, 和 reuse
subsystem tests 为 fullerverification 的 高等级的水平的 系统 elements.
这 1149.1 标准 需要 这 下列的 三 tests:
•
extest 操作指南.
这 extest 操作指南 执行 一个pcb interconnect测试. 这个 测试
places 一个 设备 在 一个 外部 boundary 测试模式, selecting 这 boundary scan 寄存器 至
是 连接 在 这 tap's 测试 数据 在(tdi) 和 测试 数据 输出 (tdo) 管脚. boundary
scan cells 是 preloaded 和 测试 patterns (via 这 样本/preload操作指南), 和 输入
boundary cells 俘获 这输入 数据 为 分析.
•
样本/preload 操作指南.
这个 操作指南 准许 一个 设备 至 仍然是 在 它的 函数的
模式, 当 selecting 这 boundary scan register 至 是 连接 在 这 tdi 和 tdo
管脚. 为 这个 测试, 这 boundary scan 寄存器能 是 accessed 通过 一个 数据 scan 运作,
准许 用户 至 样本 这 函数的数据 进去 和leaving 这 设备.
TCK
TMS
TRSTB
RDI
TDO
操作指南 decode
&放大;
控制 逻辑
tap 控制
状态 机器
(16 states)
操作指南 寄存器
boundary-scan 寄存器
(数据 寄存器)
Mux
绕过
寄存器
Mux
内部的
寄存器
i/o 寄存器
用户 定义 数据 寄存器
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