2001 将 30 11
飞利浦 半导体 初步的 规格
multistandard video 解码器 和 adaptive
comb filter 和 组件 video 输入
SAA7118
注释
1. I = 输入, o = 输出, p = 电源, nc = 不 连接, st = strapping, pu = 拉-向上, pd = 拉-向下, od = 打开-流.
2. 在 一致 和 这
“ieee1149.1”
标准 这 焊盘 tdi, tms, tck 和 trst 是 输入 焊盘 和 一个 内部的
拉-向上 晶体管 和 tdo 是 一个 3-状态 输出 垫子.
3. 为 板 设计 没有 boundary scan implementation 连接 这 trst 管脚 至 地面.
4. 这个 管脚 提供 容易 initialization 的 这 boundary scan 测试 (bst) 电路. trst 能 是 使用 至 强迫 这 测试
进入 端口 (tap) 控制 至 这 测试_逻辑_重置 状态 (正常的 运作) 在 once.
5. 管脚 strapping 是 完毕 用 连接 这 管脚 至 这 供应 通过 一个 3.3 k
Ω
电阻. 在 这 电源-向上 重置 sequence
这 相应的 管脚 是 切换 至 输入 模式 至 读 这 strapping 水平的. 为 这 default 设置 非 strapping
电阻 是 需要 (内部的 拉-向下).
XPD3 134 B9 i/o MSB
−
4 的 expansion 端口 数据
XPD2 135 A9 i/o MSB
−
5 的 expansion 端口 数据
V
DDD11
136 M8 P 数字的 供应 电压 11 (附带的 cells)
V
SSD11
137 L8 P 数字的 地面 11 (附带的 cells)
XPD1 138 B8 i/o MSB
−
6 的 expansion 端口 数据
XPD0 139 A8 i/o lsb 的 expansion 端口 数据
XRV 140 D8 i/o vertical 涉及 i/o expansion 端口
XRH 141 C7 i/o horizontal 涉及 i/o expansion 端口
V
DDD12
142 M9 P 数字的 供应 电压 12 (核心)
XCLK 143 A7 i/o 时钟 i/o expansion 端口
XDQ 144 B7 i/o 数据 qualifier 为 expansion 端口
V
SSD12
145 L9 P 数字的 地面 12 (核心)
XRDY 146 A6 O task flag 或者 准备好 信号 从 scaler, 控制 用 xrqt
TRST 147 C6 i/pu 测试 重置 输入 (起作用的 低), 为 boundary scan 测试 (和 内部的 拉-向上);
注释 2, 3 和 4
TCK 148 B6 i/pu 测试 时钟 为 boundary scan 测试; 便条 2
TMS 149 D6 i/pu 测试 模式 选择 输入 为 boundary scan 测试 或者 scan 测试; 便条 2
TDO 150 A5 O 测试 数据 输出 为 boundary scan 测试; 便条 2
V
DDD13
151 M11 P 数字的 供应 电压 13 (附带的 cells)
TDI 152 B5 i/pu 测试 数据 输入 为 boundary scan 测试; 便条 2
V
SSD13
153 L11 P 数字的 地面 13 (附带的 cells)
V
ss(xtal)
154 A4 P 地面 为 结晶 振荡器
XTALI 155 B4 I 输入 终端 为 24.576 mhz (32.11 mhz) 结晶 振荡器 或者 连接
的 外部 振荡器 和 ttl 兼容 正方形的 波 时钟 信号
XTALO 156 A3 O 24.576 mhz (32.11 mhz) 结晶 振荡器 输出; 不 连接 如果 ttl
时钟 输入 的 xtali 是 使用
V
dd(xtal)
157 B3 P 供应 电压 为 结晶 振荡器
XTOUT 158 A2 O 结晶 振荡器 输出 信号; auxiliary 信号
DNC9 159 C3 NC 做 不 连接, 保留 为 future extensions 和 为 测试
DNC10 160 C4 NC 做 不 连接, 保留 为 future extensions 和 为 测试
标识
管脚
类型
(1)
描述
QFP160 BGA156
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