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6 修订: 22-sep-03
085 cs
vishay bccomponents
铝 电容
smd (碎片) 标准
Table 6
Table 7
乘法器 的 波纹 电流 (i
R
) 作 一个 函数 的 频率
频率
(hz)
I
R
乘法器
U
R
= 6.3 至 16 v U
R
= 25 至 40 v U
R
= 63 v
50 0.80 0.75 0.70
100 1.00 1.00 1.00
300 1.20 1.30 1.55
1000 1.35 1.55 1.90
3000 1.45 1.70 2.30
≥
10000 1.50 1.80 2.50
测试 程序 和 (所需的)东西
测试
程序
(快 涉及)
(所需的)东西
名字 的 测试 涉及
挂载 iec 60384-18,
subclause 4.3
将要 是 执行 较早的 至 tests
提到 在下;
方法: reflow 或者 (翻倍-) 波
焊接;
f或者 最大 温度 加载 谈及 至
chapter “mounting”
∆
c/c:
±
10%
tan
δ
≤
规格. 限制
I
L5
≤
2
×
规格. 限制
忍耐力 iec 60384-18/
cecc 32300,
subclause 4.15
T
amb
= 85
°
c; u
R
应用;
1000 小时
∆
c/c:
±
20%
tan
δ
≤
2
×
规格. 限制
Z
≤
3
×
规格. 限制
I
L5
≤
规格. 限制
有用的 生命 cecc 30301,
subclause 1.8.1
T
amb
= 85
°
c; u
R
和 i
R
应用;
1500 小时
∆
c/c:
±
50%
tan
δ
≤
3
×
规格. 限制
Z
≤
3
×
规格. 限制
I
L5
≤
规格. 限制
非 短的 或者 打开 电路
总的 失败 percentage:
≤
3%
shelf 生命
(存储 在 高
温度)
iec 60384-18/
cecc 32300,
subclause 4.17
T
amb
= 85
°
c; 非 电压 应用;
500 小时
之后 测试: u
R
至 是 应用 为
30 分钟, 24 至 48 小时 在之前
度量
∆
c/c, tan
δ
, z:
为 (所需的)东西
看 ‘endurance 测试’ 在之上
I
L5
≤
2
×
规格. 限制
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