介绍
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六月 2004 SPRS257
表格 2
−
2. 信号 描述
†
(持续)
名字 descriptionpu/pd
§
i/o/z
‡
管脚 非.
名字 descriptionpu/pd
§
i/o/z
‡
128-管脚
PBK
176-管脚
PGF
179-管脚
GHH
和
ZHH
JTAG
TRST B12 135 98 I PD
jtag 测试 重置 和 内部的 pulldown. trst, 当 驱动
高, 给 这 scan 系统 控制 的 这 行动 的 这
设备. 如果这个 信号 是 不 连接 或者 驱动 低, 这 设备
运作在 它的 函数的 模式, 和 这 测试 重置 信号 是
ignored.
便条: 做不 使用 pullup 电阻器 在 trst
; 它 有 一个 内部的
pulldown 设备. 在 一个 低-噪音 环境, trst
能 是
left floating. 在 一个 高-噪音 环境, 一个 额外的
pulldown 电阻 将 是 需要. 这 值 的 这个 电阻
应当 是 为基础 在 驱动 力量 的 这 debugger pods
适用 至 这 设计. 一个 2.2-k
Ω
电阻 一般地 提供
足够的 保护. 自从 这个 是 应用-明确的, 它 是
推荐 那 各自 目标 板 是 validated 为 恰当的
运作 的 这 debugger 和 这 应用.
TCK A12 136 99 I PU jtag 测试 时钟 和 内部的 pullup
TMS D13 126 92 I PU
jtag 测试-模式 选择 (tms) 和 内部的 pullup. 这个 串行
控制 输入 是 clocked 在 这 tap 控制 在 这 rising
边缘 的 tck.
TDI C13 131 96 I PU
jtag 测试 数据 输入 (tdi) 和 内部的 pullup. tdi 是 clocked
在这 选择 寄存器 (操作指南 或者数据) 在 一个rising 边缘
的 tck.
TDO D12 127 93 o/z
−
jtag scan 输出, 测试 数据 输出 (tdo). 这 内容 的 这
选择寄存器 (操作指南 或者 数据) 是 shifted 输出 的 tdo 在
这 下落 边缘 的 tck.
EMU0 D11 137 100 i/o/z PU
emulator 管脚 0. 当 trst是 驱动 高, 这个 管脚 是 使用
作 一个 中断 至 或者 从 这 emulator 系统 和 是
定义 作 输入/输出 通过 这 jtag scan.
EMU1 C9 146 105 i/o/z PU
emulator 管脚 1. 当 trst是 驱动 高, 这个 管脚 是 使用
作 一个 中断 至 或者 从 这 emulator 系统 和 是
定义 作 输入/输出 通过 这 jtag scan.
模数转换器 相似物 输入 信号
ADCINA7 B5 167 119 I
ADCINA6 D5 168 120 I
ADCINA5 E5 169 121 I
ADCINA4 A4 170 122 I
8-频道 相似物 输入 为 样本-和-支撑 一个. 这 模数转换器
管脚 应当 不 是 驱动 在之前 v V 和 v
ADCINA3 B4 171 123 I
管脚 应当 不 是 驱动 在之前 v
DDA1
, v
DDA2
, 和 v
DDAIO
p在s 有被 全部ypowered up.
ADCINA2 C4 172 124 I
管脚 有 被 全部地 powered 向上.
ADCINA1 D4 173 125 I
ADCINA0 A3 174 126 I
†
典型驱动 力量 的 这 输出 缓存区 为 所有 管脚 是 4 毫安 除了 为 tdo, xclkout, xf, xintf, emu0, 和 emu1 pins, 这个 是 8毫安.
‡
i = 输入, o = 输出, z = 高 阻抗
§
pu = 管脚 有 内部的 pullup; pd = 管脚 有 内部的 pulldown
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