ADG804
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测试 电路
V1
V
S
I
DS
R
在
= v1/i
DS
SD
04307-0-018
图示 18. 在 阻抗
一个
一个
I
D
(止)i
S
(止)
V
S
V
D
S
D
04307-0-019
图示 19. 止 泄漏
一个
I
D
(在)
V
D
S
D
NC
04307-0-020
图示 20. 在 泄漏
50%50%
90%
90%
3V
0V
V
输出
t
转变
t
转变
地址
驱动 (en)
V
DD
V
S
V
S1
V
S4
R
L
C
L
V
输出
V
DD
S1
S2
S3
S4
A1
A0
EN
地
50
Ω
35pF
D
+2.4v
0.1
µ
F
04307-0-021
图示 21. 切换 时间 的 多路调制器, t
转变
V
DD
V
S
V
S
R
L
C
L
V
输出
V
DD
S1
S2
S3
S4
A1
A0
EN
地
50
Ω
35pF
D
+2.4v
0.1
µ
F
50
Ω
t
BBM
t
BBM
80% 80%
50%50%
0V
V
在
V
输出
04307-0-022
图示 22. 破裂-在之前-制造 时间 延迟, t
BBM
V
DD
V
S
R
L
C
L
V
输出
V
DD
S1
S2
S3
S4
A1
A0
EN
地
50
Ω
35pF
D
0.1
µ
F
50
Ω
t
在
(en)
t
止
(en)
50% 50%
50%50%
0V
0.9v
0
0.9v
0
3V
V
0
0V
地址
驱动 (v
在
)
输出
04307-0-023
图示 23. 使能 延迟, t
在
(en), t
止
(en)