首页 | 最新需求 | 最新现货 | IC库存 | 供应商 | IC英文资料库 | IC中文资料库 | IC价格 | 电路图 | 应用资料 | 技术资料
 IC型号:
您现在的位置:首页 >  IC英文资料库 进入手机版 
 
资料编号:70926
 
资料名称:592D106X0010B2T
 
文件大小: 201.43K
   
说明
 
介绍:
Solid Tantalum Chip Capacitors TANTAMOUNT, Low Profile, Conformal Coated, Maximum CV
 
 


: 点此下载
  浏览型号592D106X0010B2T的Datasheet PDF文件第4页
4
浏览型号592D106X0010B2T的Datasheet PDF文件第5页
5
浏览型号592D106X0010B2T的Datasheet PDF文件第6页
6
浏览型号592D106X0010B2T的Datasheet PDF文件第7页
7

8
浏览型号592D106X0010B2T的Datasheet PDF文件第9页
9
浏览型号592D106X0010B2T的Datasheet PDF文件第10页
10
浏览型号592D106X0010B2T的Datasheet PDF文件第11页
11
 
本平台电子爱好着纯手工中文简译:截至2020/5/17日,支持英文词汇500个
www.vishay.com
81
592D
Vishay sprague
文档 号码 40004
修订 20-oct-04
为 技术的 questions, 联系 tantalum@vishay.com
R
等效串联电阻
= 这 电容 相等的 序列 阻抗
在 这 指定 频率.
3. 一个-c 波纹 电压:
这 最大 容许的 波纹
电压 将要 是 决定 从 这 formula:
或者, 从 这 formula:
在哪里,
p = 电源 消耗 在 watts @ + 25
°
c 作 给 在
这 表格 在 paragraph 号码 6.0 (电源
消耗).
R
等效串联电阻
= 这 电容 相等的 序列 阻抗
在 这 指定 频率.
z = 这 电容 阻抗 在 这 指定
频率.
7.1 在 + 25
°
c,
这 泄漏 电流 将要 不 超过
这 值 列表 在 这 标准 比率 表格.
7.2 在 + 85
°
c,
这 泄漏 电流 将要 不 超过 10
时间 这 值 列表 在 这 标准 比率 表格.
7.3 + 125
°
c,
这 泄漏 电流 将要 不 超过 12
时间 这 值 列表 在 这 标准 比率 表格.
8. 相等的 序列 阻抗:
度量 将要
是 制造 用 这 桥 方法 在, 或者 涉及 至, 一个
频率 的 100 khz 和 一个 温度 的 + 25
°
c.
8.1
这 相等的 序列 阻抗 将要 不 超过 这
值 列表 在 这 标准 比率 表格.
9. 生命 测试:
电容 将要 承受 评估 直流
电压 应用 在 + 85
°
c 为 2000 小时 或者 derated
直流 电压 应用 在 + 125
°
c 为 1000 小时.
9.1
下列的 这 生命 测试, 这 消耗 因素 和
泄漏 将要 满足 这 最初的 必要条件; 这
电容 改变 将要 不 超过
±
10% 的 这
最初的 值.
10 湿度 测试:
电容 将要 承受 1000 小时
在 + 40
°
c, 90% 至 95% 相关的 湿度, 和 非
电压 应用
10.1
下列的 这 湿度 测试, 电容 改变 将要
不 超过
±
10% 的 这 最初的 值, 消耗 因素
将要 不 超过 150% 的 这 最初的 必要条件;
泄漏 currrent 将要 不 超过 200% 的 这 最初的
必要条件 在 + 25
°
C
11. 可焊性:
电容 将 满足 这 可焊性
(所需的)东西 的 ansi/j-标准-002, 测试 b 类别 1.
效能 特性
(持续)
12. 阻抗 至 焊接 热温:
电容 挂载
在 一个 基质 将 承受 + 260
°
c 为 5 秒.
12.1
下列的 这 阻抗 至 焊接 热温 测试,
电容, 消耗 因素 和 直流 泄漏
13. 标记:
这 小 身体 范围 的 这些 电容
做 不 准许 elaborate 标记 schemes. 所有
必需的 信息 是 呈现 在 这 carton 或者
包装 在 这个 这 部分 是 运输; 在 增加,
部分 号码, quantity 和 数据 代号 是 表明 在
这 reels.
14. 终端 力量:
每 iec-384-3, 最小 的
5n shear 强迫.
15. 自然环境的:
mercury, cfc 和 ods 材料
是 不 使用 在 这 制造 的 这些 电容.
16. flammability:
encapsulant 材料 满足 ul94 v0
17. 电容 失败 模式:
这 predominant 失败
模式 为 固体的 tantalum 电容 是 增加
泄漏 电流 结果 在 一个 短接 电路. capaci-
tor 失败 将 结果 从 excess 向前 或者 反转
直流 电压, surge 电流, 波纹 电流, 热的
shock 或者 过度的 温度.
这 增加 在 泄漏 是 造成 用 一个 损坏 的
这 ta
2
O
5
泄漏 失败 的 固体的 tantalum 碎片 电容, 谈及
至 vishay sprague 技术的 paper,
泄漏 失败
模式 在 固体的 tantalum 碎片 电容.
应用 电压 推荐
(v) 电容 电压
比率 (v)
2.5 4
4 6.3
58
610
10 16
12 20
18 25
24 35
P
R
等效串联电阻
I
rms
=
V
rms
= i
rms
x z
P
R
等效串联电阻
V
rms
手册 至 应用
1.0 推荐 评估 working 电压 指导原则:
(-55
°
c 至 + 85
°
c)
2. 一个-c 波纹 电流:
这 最大 容许的 波纹
电流 将要 是 决定 从 这 formula:
在哪里,
p = 电源 消耗 在 watts @ + 25
°
c 作 给
在 这 表格 在 paragraph 号码 6.0 (
电源 消耗)
资料评论区:
点击回复标题作者最后回复时间

标 题:
内 容:
用户名:
手机号:    (*未登录用户需填写手机号,手机号不公开,可用于网站积分.)
      
关于我们 | 联系我们
电    话13410210660             QQ : 84325569   点击这里与集成电路资料查询网联系
联系方式: E-mail:CaiZH01@163.com