40mx 和 42mx fpga families
v6.0 1-11
各自 i/o cell 有 三 boundary-scan 寄存器 cells, 各自
和 一个 串行-在, 串行-输出, 并行的-在, 和 并行的-输出
管脚. 这 串行 管脚 是 使用 至 serially 连接 所有 这
boundary-scan 寄存器 cells 在 一个 设备 在 一个 boundary-
scan 寄存器 chain, 这个 starts 在 这 tdi 管脚 和 ends
在 这 tdo 管脚. 这 并行的端口 是 连接 至 这
内部的 核心 逻辑 tile 和 这 输入, 输出 和 控制
端口 的 一个 i/o 缓存区 至 capture 和 加载 数据 在 这
寄存器 至 控制 或者 observe 这 逻辑 状态 的 各自 i/o.
图示 1-14 •
42mx ieee 1149.1 boundary scan 电路系统
Table3 •
测试 进入 端口 描述
端口 描述
tms (测试 模式
选择)
串行 输入 为 这 测试 逻辑 控制 位. 数据 是 captured 在 这 rising 边缘 的这 测试 逻辑 时钟 (tck).
tck (测试 时钟 输入) 专心致志的 测试 逻辑 时钟 使用 serially 至变换 测试 操作指南, 测试 数据, 和 控制 输入 在 这rising 边缘
的 这 时钟, 和 serially 至 变换 这 输出 数据 在 the 下落 边缘 的 这 时钟.这 最大 时钟 频率
为 tck 是 20 mhz.
tdi (测试 数据 输入) 串行 输入 为 操作指南 和 测试 数据. data 是 captured 在 这 rising 边缘 的 这 测试 逻辑 时钟.
tdo (测试 数据
输出)
串行 输出 为 测试 操作指南 和 数据 从 这 测试逻辑. tdo 是 设置 至 一个 inactive 驱动 状态 (高
阻抗) 当 数据 scanning 是 不 在 progress.
Table4 •
supported bst public 说明
操作指南 ir 代号 (ir2.ir0) 操作指南 类型 描述
EXTEST 000 Mandatory 准许 这外部 电路系统 和 板-水平的 interconnections 至
是 测试 用 forcing 一个 测试 模式 在 这 输出 管脚 和
capturing 测试 结果 在 这 输入 管脚.
样本/preload 001 Mandatory 准许 一个 snapshot 的 这 信号 在 这 设备 管脚 至 是
captured 和 examined 在 运作
高 z 101 Optional tristates 所有 i/os 至 准许 外部 信号 至 驱动 管脚. 请
谈及 至 这 ieee standard 1149.1 规格.
CLAMP 110 Optional 准许 状态 的 信号 驱动 从 组件 管脚 至 是
决定 从 这 boundary-scan 寄存器. 请 谈及 至
这 ieee 标准 1149.1 specification 为 详细信息.
绕过 111 Mandatory 使能 这 绕过 register 在 这 tdi 和 tdo 管脚. 这
测试 数据 passes 通过 这 选择 设备 至 调整 设备
在 这 测试 chain.
boundary scan 寄存器
操作指南
Decode
控制 逻辑
tap 控制
操作指南
寄存器
绕过
寄存器
TMS
TCK
TDI
输出
MUX
TDO
JTAG
JTAG
: 点此下载
