mt8960/61/62/63/64/65/66/67
数据 薄板
11
zarlink 半导体 公司
表格 3 - 控制 states - 寄存器 b
Powerdown
powerdown 的 这 碎片 是 达到 在 一些 方法:
内部的 控制:
1) 最初的 电源-向上. 最初的 应用 的 v
DD
和 v
EE
导致 powerdown 为 一个 时期 的 25 时钟 循环 和
在 这个 时期 这 碎片 将 accept 输入 仅有的 从 c2i. 这 b-寄存器 是 重置 至 零 forcing sd0-5 至
是 inactive. 位 0-5 的 寄存器 一个 (增益 调整 位) 是 强迫 至 零 和 位 6 和 7 的 寄存器 一个
变为 逻辑 高 因此 reinforcing 这 powerdown.
2) 丧失 的 c2i. powerdown 是 entered 10 至 40
µ
s 之后 c2i 有 assumed 一个 持续的 逻辑 高 (v
DD
). 在
这个 情况 这 碎片 将 是 在 这 一样 状态 作 在 (1) 在之上.
便条:
如果 c2i stops 在 一个 持续的 逻辑 低 (gndd), 这 数字的 数据 和 状态 是 indeterminate.
外部 控制:
1) 寄存器 一个. powerdown 是 控制 用 位 6 和 7 (when 两个都 在 逻辑 高) 的 寄存器 一个 这个 在 转变
receives 它的 控制 文字 输入 通过 csti, 当 f1i
是 低 和 ca 输入 是 也 在 v
EE
或者 gndd. 电源 是
移除 从 这 过滤 和 相似物 sections的 这 碎片. 这 相似物 输出 缓存区 在 v
R
将 是 连接
至 gnda. dsto 变为 高 阻抗 和 这 clocks 至 这 majority 的 这 逻辑 是 stopped. sd
输出 是 unaffected 和 将 是 updated 作 正常的.
2) CSTi
输入. 和 ca 在 v
EE
和 csti 使保持 在 持续的 逻辑 高 这 碎片 假设 这 一样 状态 作
描述 在 外部 控制 (1) 在之上.
0 1 transmit 过滤 测试, i.e.:
transmit 过滤 输入 连接 至 v
X
输入
receive 过滤 和 缓存区 disconnected 从 v
R
1 0 receive 过滤 测试, i.e.:
receive 过滤 输入 连接 至 v
X
输入
receive 过滤 输入 disconnected 从 codec
1 1 codec 测试 i.e.:
codec 相似物 输入 连接 至 v
X
codec 相似物 输入 disconnected从 transmit 过滤 输出
codec 相似物 输出 连接 至 v
R
V
R
disconnected 从 receive 过滤 输出
位 0-2 逻辑 控制 输出 sd
0
-sd
2
: 点此下载
