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资料编号:959678
 
资料名称:5962-3826709VZM
 
文件大小: 316K
   
说明
 
介绍:
MICROCIRCUIT, MEMORY, DIGITAL, CMOS 128K x 8 BIT EEPROM, MONOLITHIC SILICON
 
 


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标准
微型电路 绘画
defense 供应 中心 columbus
columbus, ohio 43216-5000
大小
一个
5962-38267
修订 水平的
G
薄板
12
dscc 表格 2234
apr 97
表格 i.电的 performance 特性- 持续.
| | | | | |
测试 |Symbol | 情况 | 组 一个 | 设备 | 限制 |单位
| | -55
(
C
T
+125
(
C |subgroups | 类型 | | |
C
| | v = 0 v; 4.5 v
V
5.5 v | | | 最小值 | 最大值 |
SS CC
| | 除非 否则 指定 | | | | |
| | | | | | |
R
E
S
低 至 输出 float |t |see 计算数量 4, 5, 和 6 作 |9, 10, 11 | 16-19 | 0 | 350 | ns
DFR
| | 适用. 5/ 8/ | | | | |
| | | | | | |
| | | | | | |
R
E
S
至 输出 延迟 |t | |9, 10, 11 | 16-19 | 0 | 450 | ns
RR
| | | | | | |
| | | | | | |
重置 保护 时间 |t | |9, 10, 11 | 16-19 | 100 | | µs
RP
| | | | | | |
| | | | | | |
重置 高 时间 |t | |9, 10, 11 | 16-19 | 1.0 | | µs
RES
| | | | | | |
| | | | | | |
时间 至 设备 busy |t | |9, 10, 11 | 16-19 | 120 | | ns
DB
| | | | | | |
1/ 连接 所有 地址 输入 和 o
E
至 v 和 measure i 和 i 和 这 输出 下面 测试 连接 至 v .
IH OZL OZH 输出
终端 情况 为 这 输出泄漏 电流 测试 将要 是 作 跟随:
一个. V = 2.0 v 为 设备 类型 01-15 和 2.2 v 为 设备 类型 16-19; v = 0.8 v.
IH IL
b. 为 i : 选择 一个 适合的 地址 至 acquire一个 逻辑 "1" 在 这 designated 输出. 应用 v 至 c
E
.
OZL IH
measure 这 泄漏 电流 当 应用 这 指定 电压.
c. 为 i : 选择 一个 适合的 地址 至 acquire一个 逻辑 "0" 在 这 designated 输出. 应用 v 至 c
E
.
OZH IH
measure 这 泄漏 电流 当 应用 这 指定 电压.
2/ 一个 函数的 测试 将要 核实 这 直流 输入 和 输出放 水平 和 适用 patterns 作 适合的, 所有 输入
和 i/o 管脚 将要 是 测试.终端 情况 是 作 跟随:
一个. 输入: h =2.0 v 为 设备 类型 01-15 和 2.2 v 为 device 类型 16-19; l = 0.8 v. 输出: h = 2.4 v 最小 和
l = 0.4 v 最大.
b. 这 函数的 tests 将要 是 执行 和 v = 4.5 和 v = 5.5 v.
CC CC
3/ 所有 管脚 不 正在 测试 是 至 是 打开.
4/ 测试 initially 和 之后 任何 设计 或者 处理 改变这个 将 影响 那 parameter, 和 因此 将要 是
有保证的 至 这 限制 指定 在 表格 i.
5/ 测试 用 应用 的 指定 定时 信号 和 情况.
相等的 交流 测试 情况:
输出加载, 看 图示 5; 输入 上升和 下降 时间
10 ns; 输入 脉冲波 水平, 0.4 v 和 2.4 v; 定时 度量
涉及水平, 输入, 1.5 v 为设备 类型 1-15 和 1 v 和 2 v 为 设备 类型 16-19; 输出, 1.5 v 为 设备 类型
1-15 和 0.8 v 和 2 v 为 设备 类型 16-19.
6/ 碎片 擦掉 功能 是 applicable 至 设备 类型 01-15 仅有的.
7/ 这个 参数 不 适用 为内部的 计时器 控制 设备.
8/ r
E
S
功能 是 适用 至 设备 类型 16-19 仅有的.
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