首页 | 最新需求 | 最新现货 | IC库存 | 供应商 | IC英文资料库 | IC中文资料库 | IC价格 | 电路图 | 应用资料 | 技术资料
 IC型号:
您现在的位置:首页 >  IC英文资料库 进入手机版 
 
资料编号:959678
 
资料名称:5962-3826709VZM
 
文件大小: 316K
   
说明
 
介绍:
MICROCIRCUIT, MEMORY, DIGITAL, CMOS 128K x 8 BIT EEPROM, MONOLITHIC SILICON
 
 


: 点此下载
  浏览型号5962-3826709VZM的Datasheet PDF文件第9页
9
浏览型号5962-3826709VZM的Datasheet PDF文件第10页
10
浏览型号5962-3826709VZM的Datasheet PDF文件第11页
11
浏览型号5962-3826709VZM的Datasheet PDF文件第12页
12

13
浏览型号5962-3826709VZM的Datasheet PDF文件第14页
14
浏览型号5962-3826709VZM的Datasheet PDF文件第15页
15
浏览型号5962-3826709VZM的Datasheet PDF文件第16页
16
浏览型号5962-3826709VZM的Datasheet PDF文件第17页
17
 
本平台电子爱好着纯手工中文简译:截至2020/5/17日,支持英文词汇500个
标准
微型电路 绘画
defense 供应 中心 columbus
columbus, ohio 43216-5000
大小
一个
5962-38267
修订 水平的
G
薄板
13
dscc 表格 2234
apr 97
4.4.1组 一个 inspection.
一个. tests 将要 是 作 指定 在 表格 iia 在此处.
b. subgroups 5 和 6 在 表格 i, 方法 5005 的 mil-标准-883 将要 是 omitted.
c. subgroup 4 (c 和 c 度量) 将要 是 量过的 仅有的 为最初的 资格 和 之后 任何 处理或者 设计
输出
改变 这个 将 影响 输入 或者 输出 capacitance. 电容 将要 是 measured 在 这 designated 终端
和 地 在 一个 频率 的 1 mhz. 样本 大小 是 15 devices 和 非 failures 和 所有 输入 和 输出 terminals 测试.
d. 设备类 m, subgroups 7 和 8 tests 将要 是 sufficient 至 核实 这 真实 表格. 为 设备 classes q 和 v,
subgroups7 和 8 将要 包含 verifying 这 符合实际 的这 设备, 这些 tests 将要 有 被 故障 graded 在
一致 和 mil-标准-883, 测试 方法 5012 (看 1.5 在此处).
e. o/v(latch-向上) tests 将要 是 量过的 仅有的 为 最初的 qualification 和 之后 任何 设计 或者 处理 改变 这个 将
影响这 效能 的 这 设备. 为 设备 类 m,程序 和 电路 将要 是 maintained 下面 文档
修订 level 控制 用 这 生产者 和 将要 是 制造 available 至 这 preparing activity 或者 acquiring activity 在之上
要求. 为 设备 classes q 和 v, 这 procedures 和 电路 将要 是 下面 这控制 的 这 设备 生产者's
TRB在 一致 和 mil-prf-38535 和 将要 是 制造 有 至 这 preparing activity或者 acquiring activity 在之上
request.测试 将要 是 在 所有 管脚, 在 five 设备 和 零 failures. 获得-向上 测试 将要 是 考虑 引起破坏.
信息 包含 在 电子元件工业联合会 标准eia/jesd78 将 是 使用 为 涉及.
f. 所有设备 选择 为 测试 将要 是 编写程序 和 一个 checkerboard 模式 或者 相等的. 之后 completion 的 所有
测试, 这 设备 将要 是 erased 和 核实, (除了 设备 submitted 为 groups c 和 d 测试).
4.4.2组 c inspection. 这 组 c inspection 终止-要点 电的 parameters 将要 是 作 指定 在 表格 iia 在此处.
4.4.2.1额外的 criteria 为 设备 类 m.
一个. 稳步的-状态 生命 测试 情况, 方法 1005 的 mil-标准-883:
(1) 这 设备 selected 为 测试 将要 是 编写程序 和 一个 checkerboard 模式. 之后 completion 的 所有 测试, 这
设备 将要 是 erased 和 核实 (除了设备 submitted 为 组 d 测试).
(2) 测试 情况 d 或者 e.这 测试 电路 将要 是 maintained 用 这生产者 下面 文档 修订 水平的 控制
和 将要 是 制造 有 至 这 preparing 或者 交流quiring activity 在之上 要求. 这 测试 电路 sh所有 具体说明 这 输入,
输出, biases, 和 电源 消耗, 作 适用, 在 一致 和 这 intent 指定 在 测试 方法 1005.
(3) T = +125
(
c, 最小.
一个
(4) 测试 持续时间: 1,000 小时, 除了 作指定 在 方法 1005 的 mil-标准-883.
b. 所有设备 需要 终止-要点 电的 测试 将要 是 programmed 和 一个 checkerboard 或者 相等的 alternating 位
模式.
c. 之后 这 completion 的 所有 测试, 这 devices 将要 是 cleared 和 核实 较早的 至 传送.
4.4.2.2额外的 criteria 为 设备 classes q 和 v. 这 稳步的-状态 生命 测试 持续时间, 测试情况 和 测试 温度,
或者 批准 alternatives 将要 是 作 指定在 这 设备 生产者's qm 计划 在 一致 和 mil-prf-38535. 这 测试
电路将要 be maintained 下面 文档 修订 水平的 控制 用 the 设备 生产者's trb, 在 一致 和 mil-
prf-38535, 和 将要 是 制造 有 至 这 acquiring 或者 preparing activity 在之上 要求. 这 测试 电路 将要 具体说明 这inputs,
输出, biases, 和 电源 消耗, 作 适用, 在 一致 和 the intent 指定 在 测试 方法 1005 的 mil-标准-883.
4.4.3组 d inspection. 这 组 d inspection 终止-要点 electrical 参数 将要 是 作 specified 在 表格 iia 在此处. 这
设备 选择 为 测试 将要 是 编写程序 和 一个 checkerboard 模式. 之后 completion 的 所有 测试, 这 设备 将要 是
erased 和 核实.
资料评论区:
点击回复标题作者最后回复时间

标 题:
内 容:
用户名:
手机号:    (*未登录用户需填写手机号,手机号不公开,可用于网站积分.)
      
关于我们 | 联系我们
电    话13410210660             QQ : 84325569   点击这里与集成电路资料查询网联系
联系方式: E-mail:CaiZH01@163.com