march 1988 16
飞利浦 半导体
hcmos 家族 特性 家族 规格
交流 特性
这 “ac characteristics” 表格 lists 这 有保证的
限制 当 一个 设备 是 测试 下面 这 情况 给 在
这 交流 测试 电路 和 波形 部分.
测试 电路
好的 高-频率 线路 practices 应当 是 使用 在
测试 电路. 电容 leads 应当 是 作 短的 作
可能 至 降低 ripples 在 这 输出 波形
transitions 和 undershoot. generous 地面 metal
(preferably 一个 地面-平面) 应当 是 使用 为 这 一样
reasons. 一个 v
CC
解耦 电容 应当 是 提供
在 这 测试 插座, 也 和 短的 leads. 输入 信号
应当 有 上升 和 下降 时间 的 6 ns, 一个 信号 摆动 的
0 V 至 V
CC
为 74hc 和 0 V 至 3 v 为 74hct; 一个 1.0 MHz
正方形的 波 是 推荐 为 大多数 传播 延迟
tests. 这 repetition 比率 必须 是 增加 为 测试
f
最大值
. 二 脉冲波 发生器 是 通常地 必需的 为 测试
此类 参数 作 设置-向上 时间, 支撑 时间 和 除去
时间. f
最大值
是 也 测试 和 6 ns 输入 上升 和 下降 时间,
和 一个 50% 职责 因素, 但是 为 典型 f
最大值
作 高 作
60 mhz, 那里 是 非 constraints 在 上升 和 下降 时间.
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